Issue Section:
Editorial
Topics:
China, Data acquisition systems, Engineering systems and industry applications

graphic
The Editor and Editorial Board of the Journal of Thermal Science and Engineering Applications would like to thank all of the reviewers for volunteering their expertise and time reviewing manuscripts in 2023. Serving as reviewers for the journal is a critical service necessary to maintain the quality of our publication and to provide the authors with a valuable peer review of their work. Below is a complete list of reviewers for 2023. We would also like to acknowledge five outstanding Reviewers of the Year.

2023 Reviewers of the Year

Steven O’Halloran — AGCO Corporation, USA

Mary Holloway — GE, USA

Chirodeep Bakli — IIT-Kharagpur, India

Hongmei Jiang — Shanghai Jiao Tong University, China

Subrajit Chakraborty — UC-Davis, USA

The Reviewers of the Year Award is given to reviewers who have made an outstanding contribution to the journal in terms of the quantity, quality, and turnaround time of reviews completed during the past 12 months. The prize includes a Wall Plaque, 50 free downloads from the ASME Digital Collection, and a one year free subscription to the journal.

List of TSEA Reviewers

  • A. Abdulateef

  • S. Acharya

  • A. Adoni

  • K. Agrawal

  • V. Agrawal

  • F. Ahmad

  • V. Ahmadi Kalkhorani

  • Y. Aider

  • N. Akturk

  • M. Al Ali

  • M. Ali

  • M. Alqefl

  • M. Alwazzan

  • R. Amalfi

  • A. Amarnath

  • D. Amogne

  • K. Anand

  • K. Anderson

  • A. Arisi

  • A. Arora

  • A. Arshad

  • A. Assam

  • K. Assawamartbunlue

  • A. Atmanli

  • M. Awad

  • D. Ayub

  • H. Babu

  • C. Bach

  • A. Bagchi

  • F. Bakhti

  • A. Barik

  • M. Barringer

  • V. Baxter

  • D. Bejan

  • D. Bello-Ochende

  • J. Belman-Flores

  • S. Bhagwat

  • R. Bharti

  • N. Bhatt

  • A. Bhattacharya

  • S. Bhattacharyya

  • K. Bhupendra

  • D. Bigham

  • G. Biswas

  • S. Boetcher

  • K. Botros

  • C. Bowman

  • R. Brakmann

  • D. Buddhi

  • M. Burhan

  • W. Bushe

  • V. Calmidi

  • D. Carozza

  • C. Cengiz

  • S. Chakrabarti

  • S. Chakraborty

  • A. Chamkha

  • L. Chandra

  • W. Chang

  • S. Chattopadhyay

  • V. Chauhan

  • B. Che

  • J. Cheng

  • M. Chowdhury

  • A. Cooney

  • T. Dagdevir

  • B. Dai

  • D. Dai

  • S. Daisy

  • H. Dang

  • D. Das

  • S. Das

  • S. Dash

  • S. Datta

  • S. David Chua

  • P. Dhar

  • J. Dong

  • P. Dubey

  • V. Duong

  • E. El-Said

  • S. Elbel

  • A. Eltaweel

  • R. Ennetta

  • F. Erchiqui

  • D. Fakheri

  • D. Fang

  • H. Faraji

  • T. Farouk

  • D. Feng

  • D. Fronk

  • R. Ganguly

  • S. Ganguly

  • Z. Gao

  • D. Gardner

  • M. Ghamari

  • I. Ghosh

  • F. Giuliani

  • A. Gogineni

  • P. Gullo

  • S. Gungor

  • S. Guo

  • S. GÃœVEN

  • D. Han

  • M. Haque

  • H. D. Haribabu

  • G. Harvel

  • D. Hassan

  • S. Haydt

  • D. He

  • J. Ho

  • M. Holloway

  • S. Hong

  • B. Hu

  • H. Hu

  • Z. Hu

  • D. Huang

  • R. Huang

  • G. Hwang

  • D. Iasiello

  • A. Ijam

  • H. Inamdar

  • A. Jacobi

  • J. Jaidi

  • R. Jain

  • J. Jenks

  • K. Jeong

  • H. Jiang

  • A. Joardar

  • M. Jog

  • D. Jokar

  • S. Kadhim

  • K. Kalita

  • S. Kallio

  • M. Khader

  • S. Khalilinezhad

  • J. Kim

  • M. Kim

  • A. Kosar

  • M. Koz

  • R. Krewinkel

  • E. Krishnan

  • A. Kumar

  • P. Kumar

  • R. Kumar

  • S. Kumar

  • V. Kumar

  • S. Kwark

  • R. Lakkaraju

  • S. Landini

  • E. Lee

  • M. Lee

  • C. Li

  • D. Li

  • J. Li

  • R. Li

  • Z. Li

  • D. Liu

  • J. Liu

  • T. Liu

  • N. Lopes

  • S. Lu

  • Y. Lu

  • S. Lynch

  • D. Ma

  • H. Ma

  • C. Maalouf

  • H. Maghrabie

  • T. Mancuso

  • A. Mandal

  • S. Mangavelli

  • R. Manglik

  • B. Mehra

  • H. Mehta

  • M. Miccio

  • S. Missaoui

  • S. Mitra

  • S. Mohammadian

  • K. Mondal

  • P. Mondal

  • A. Mukherjee

  • D. Muley

  • R. Nagaosa

  • S. Naik

  • H. Najafi Khaboshan

  • V. Narayanan

  • K. Nawathe

  • K. Nawaz

  • Y. Nguyen

  • S. O'Halloran

  • Y. Oda

  • H. Olivier

  • M. Otto

  • D. Oztop

  • B. Panigrahi

  • H. Park

  • Z. Parlak

  • A. Parwani

  • V. Patel

  • J. Peck

  • B. Pekmen Geridonmez

  • B. Peng

  • M. Pourghasemi

  • R. Qiao

  • M. Qidwai

  • H. Qin

  • S. Qiu

  • D. Qu

  • D. Raghavan

  • S. Rahman

  • D. Rakshit

  • M. Ralphs

  • S. Rao

  • T. Rashid

  • E. Rasouli

  • N. Roberts

  • W. Rohlfs

  • B. Rosic

  • R. Roy

  • S. Roy

  • D. Saha

  • S. Saha

  • I. Sahin

  • S. Sahoo

  • K. Saidi

  • A. Salih

  • A. Sarhan

  • J. Sarkar

  • A. Sasmito

  • P.V. Satya Narayana

  • N. Sebaibi

  • F. Secchi

  • S. Shafiee

  • J. Shamim

  • T. Shamim

  • B.M. Shankar

  • J. Shelton

  • C. Shiau

  • S. Shine

  • A. Silva

  • R. Sindjui

  • A. Singh

  • N. Singh

  • P. Singh

  • S. Singh

  • V. Sinha

  • A. Sit

  • G. Smaisim

  • M. Sobieraj

  • A. Solanki

  • P. Solanki

  • S. Solovitz

  • K. Sreekesh

  • A. Sridhar

  • D. Srivastava

  • M. Stubblebine

  • V. Subotic

  • B. Sunden

  • A. Tajik

  • K. Takeishi

  • V. Talari

  • I. Tano

  • A. Thiruvengadam

  • S. Thompson

  • P. Tripathy

  • D. Turkyilmazoglu

  • K. Varadarajan

  • M. Vellakal

  • P. Venturini

  • S. Vijayaraghavan

  • K. Vinton

  • T. Visalli

  • Y. Waddad

  • Z. Wang

  • A. Wemhoff

  • P. Woodfield

  • L. Wright

  • R. Xie

  • F. Xu

  • J. Xu

  • D. Yang

  • X. Yang

  • S. Yesudasan

  • L. Yin

  • X. Yin

  • X. YU

  • Z. Yuan

  • S. Zakeri Shahvari

  • A. Zamiri

  • J. Zhang

  • K. Zhang

  • Q. Zhang

  • X. Zhang

  • D. Zheng

  • Q. Zheng

  • Y. Zhong

  • X. Zhu

  • Y. Zhu

  • G. Ziskind

Copyright © 2024 by ASME